Logo
Nazad
M. Buckwell, L. Montesi, C. V. D. Bosch, R. Chater, S. Hudziak, A. Mehonic, A. Aguardero, A. Kenyon
0 4. 5. 2016.

Conductance tomography as a simple way of examining nanoscale electro-structural changes in semiconductor devices


Pretplatite se na novosti o BH Akademskom Imeniku

Ova stranica koristi kolačiće da bi vam pružila najbolje iskustvo

Saznaj više