Logo
Nazad
N. Tanović, L. Tanović, J. Fine
9 1. 4. 1992.

Interface width dependence on sample temperature during Auger sputter depth profiling of Cr/Ni multilayered thin films


Pretplatite se na novosti o BH Akademskom Imeniku

Ova stranica koristi kolačiće da bi vam pružila najbolje iskustvo

Saznaj više